XRF测厚仪使用原理

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一、 XRF测厚

1. X射线测厚原理：

对于平滑均匀的无限厚试样，分析线强度是分析元素浓度的函数；对于平滑均匀厚度小于临界值（X射线所能穿透的最大厚度，即饱和厚度）的试样，分析线强度则是分析元素浓度和样品厚度的函数。如果样品是纯元素或其组成不变，则分析线强度仅仅是样品厚度的函数。

2. 优缺点

1） 优点：A.快速测量镀层厚度

         B.操作简便，不损样品。

2） 缺点：A.每种样品测量需校正

         B.对标准样很严格

3. 基本功能和仪器用途

1） 广泛应用各行业厚度测量

2） 与我们制程产品相关的有：化银，电镀铜

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